标准牌号
选择磁导率牌号与几何；数据手册给出该工作点的 AL、Ae、Le 与损耗。
粉芯与绕线组件
磁芯与绕线组件回答的是不同问题，因此各自以自身的测试条件界定。
- 裸芯：有效磁导率、AL、Ae、Le、Ve、Bs 与体积损耗，均标注频率、磁通密度与温度。
- 绕线测试件——按电感量、Isat（含下降判据）、DCR 与 SRF 定义，并注明对应的绕线方式。
- 磁芯损耗在指定的频率、磁通密度与温度下给出。
铁镍粉芯系列
| 材料体系 | FeNi 合金粉（铁镍） | 成分按牌号确认 |
|---|---|---|
| 磁导率 | 多个 µe 牌号 | 容差见牌号数据表 |
| 几何形状 | 环形与定制形状 | 定制模具按需提供 |
| 材料数据 | Bs、磁芯损耗与工作温度 | 按牌号给出，附测试条件——见下方材料数据 |
THA100 材料特性
铁镍粉芯采用的材料数据集。数值为该牌号的典型值；器件性能仍取决于结构、绕组与实际工况。
THA100 · 标准材料
材料典型值
材料参数
| 参数 | 典型值 | 测试条件 |
|---|---|---|
| 材料牌号 | THA100 | 公开资料的牌号标识。 |
| 初始磁导率 μi | 100 | 相对磁导率，无量纲。 |
| 饱和磁通密度 Bs | 1500mT | 该牌号典型值。 |
| 居里温度 Tc | > 500°C | 严格大于该数值。 |
| 工作温度范围 | −55 至 +200°C | 材料温度范围——非成品器件额定值。 |
体积磁芯损耗
四个公开测试点。每个损耗值仅对应同一行标注的频率、磁通密度与温度。
| 测试频率 | 测试磁通密度 | 温度 | 体积损耗 |
|---|---|---|---|
| 100 kHz | 100mT | 100°C | 200mW/cm³ |
| 500 kHz | 50mT | 100°C | 300mW/cm³ |
| 1 MHz | 50mT | 100°C | 820mW/cm³ |
| 1 MHz | 100mT | 100°C | 4200mW/cm³ |
以上为 THA100 材料典型特性。磁芯损耗仅对应表中注明的频率、磁通密度与温度条件。具体电感性能还取决于磁芯结构、绕组设计及实际工况。
来源：YUTE 材料特性表，2026-10-26。表中为典型值；完整材料数据表可索取。
订购方式
绕线测试件
当电感量是关键指标时，我们按明确的绕线方式报价，使 L、Isat、DCR 可复现。
定制几何
图纸与 3D 模型按压制模具评估；样品周期取决于模具。
下一步
