標準牌號
選擇磁導率牌號與幾何；資料手冊給出該工作點的 AL、Ae、Le 與損耗。
粉芯與繞線組件
磁芯與繞線組件回答的是不同問題，因此各自以自身的測試條件界定。
- 裸芯：有效磁導率、AL、Ae、Le、Ve、Bs 與體積損耗，均標註頻率、磁通密度與溫度。
- 繞線測試件——依電感量、Isat（含下降判據）、DCR 與 SRF 定義，並註明對應的繞線方式。
- 磁芯損耗在指定的頻率、磁通密度與溫度下給出。
鐵鎳粉芯系列
| 材料體系 | FeNi 合金粉（鐵鎳） | 成分依牌號確認 |
|---|---|---|
| 磁導率 | 多個 µe 牌號 | 容差見牌號資料表 |
| 幾何形狀 | 環形與客製形狀 | 客製模具依需提供 |
| 材料數據 | Bs、磁芯損耗與工作溫度 | 依牌號給出，附測試條件——見下方材料數據 |
THA100 材料特性
鐵鎳粉芯採用的材料資料集。數值為該牌號的典型值；元件性能仍取決於結構、繞組與實際工況。
THA100 · 標準材料
材料典型值
材料參數
| 參數 | 典型值 | 測試條件 |
|---|---|---|
| 材料牌號 | THA100 | 公開資料的牌號標識。 |
| 初始磁導率 μi | 100 | 相對磁導率，無量綱。 |
| 飽和磁通密度 Bs | 1500mT | 該牌號典型值。 |
| 居里溫度 Tc | > 500°C | 嚴格大於該數值。 |
| 工作溫度範圍 | −55 至 +200°C | 材料溫度範圍——非成品元件額定值。 |
體積磁芯損耗
四個公開測試點。每個損耗值僅對應同一行標註的頻率、磁通密度與溫度。
| 測試頻率 | 測試磁通密度 | 溫度 | 體積損耗 |
|---|---|---|---|
| 100 kHz | 100mT | 100°C | 200mW/cm³ |
| 500 kHz | 50mT | 100°C | 300mW/cm³ |
| 1 MHz | 50mT | 100°C | 820mW/cm³ |
| 1 MHz | 100mT | 100°C | 4200mW/cm³ |
以上為 THA100 材料典型特性。磁芯損耗僅對應表中註明的頻率、磁通密度與溫度條件。具體電感性能還取決於磁芯結構、繞組設計及實際工況。
來源：YUTE 材料特性表，2026-10-26。表中為典型值；完整材料資料表可索取。
訂購方式
繞線測試件
當電感量是關鍵指標時，我們依明確的繞線方式報價，使 L、Isat、DCR 可重現。
客製幾何
圖紙與 3D 模型依壓製模具評估；樣品週期取決於模具。
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